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ICT、AOI、ATE、AXI、飞针测试比较
发布时间:2012-12-31 09:00:39 点击次数:3834

AOIICTATEAXI飞针
成本较高
工作模式光学测试电气测试电气测试光学X射线电气测试
测试对象SMDSMD/DIP SMD/DIP BGA SMD/DIP 
检测重点物理损件电气+物理电气+物理物理损件电气+物理
开/短路光学测试电气测试电气测试光学测试电气测试
夹具 有,成本低成本很高无 无 
时间/速度慢 较快慢 很慢
误判率


较低
维护费用较低很高 较高  高 

使用以上设备主要目的都是为了提高生产工艺水平,提高生产质量也就是所谓制程良率。ICT,ATE,飞针测试是通过电气测试检测元件,在检测制程的同时也检测元件的电气良率,并可帮助维修提高出货良率及提高返修效率。就ICT而言,各家软/硬件电路各异,有的硬体设计复杂自我保护性高,硬体不易损坏,测试量程宽信号广,如派捷PTI816。有的设计简单成本低,无相关辅助保护电路设计,如:在待测板带电的情况下测试会损坏设备等。